顆粒跟蹤分析儀中納米技術(shù)的應(yīng)用

納米系列顆粒跟蹤分析儀所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。

顆粒跟蹤分析儀全自動(dòng)和無源穩(wěn)定性：自動(dòng)校準(zhǔn)程序會持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
 
顆粒跟蹤分析儀中動(dòng)態(tài)光散射：所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

顆粒跟蹤分析儀又稱為顆粒計(jì)數(shù)器，是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)規(guī)定，采用光阻法(遮光法)原理研制，用于檢測液體中固體顆粒的大小和數(shù)量,可廣泛應(yīng)用于航空航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造等領(lǐng)域，對液壓油、潤滑油、變壓器油(絕緣油)、汽輪機(jī)油(透平油)、齒輪油、發(fā)動(dòng)機(jī)油、航空煤油、水基液壓油等油液進(jìn)行固體顆粒污染度檢測，及對有機(jī)液體、聚合物溶液進(jìn)行不溶性微粒的檢測。