超細(xì)顆粒粒度分析儀的性能和特點(diǎn)

     亞微米技術(shù)是當(dāng)今重點(diǎn)研究及發(fā)展技術(shù)，它能夠應(yīng)用于工業(yè)及科學(xué)領(lǐng)域上，從物料科學(xué)至電子配件，從化學(xué)分析至生物科學(xué)，亞微米技術(shù)扮演著重要的角色。因此，亞微米顆粒分析儀的需求不斷上升。

一、超細(xì)顆粒粒度分析儀性能分析：
   ·粒度測(cè)量范圍：3-3000nm
   ·分子量測(cè)量范圍：104-1013 Daltons
   ·分析時(shí)間：30-180秒（或以上）
   ·樣品溫控范圍：6^oC-60^oC

二、超細(xì)顆粒粒度分析儀技術(shù)特點(diǎn)：
   ·應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射原理，符合ISO 13321標(biāo)準(zhǔn)
   ·*的六角度（14.9^o, 20.6^o, 30.4^o, 40.2^o, 50.4^o及90^o）納米粒度分析儀。
   ·小角度測(cè)量具有更高的分辨率與靈敏度。
   ·高功率激光器確保弱光散射和極稀濃度樣品分析的準(zhǔn)確性。
   ·*的”Finger-Print”指紋圖譜，提供快速的樣品污染物檢測(cè)，利用四個(gè)角度分析樣品，對(duì)照不同樣品的
      圖譜，可鑒別樣品存在污染物；多分散體或混雜體。